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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點

1. 用途廣泛的鍍層厚度測量

• 通過組合高壓和濾片，可精準測量極薄（如50 nm Au）至較厚（如100 μm Sn）的鍍層，覆蓋多種厚度需求 。

2. 高精度微聚焦技術

• 配備微聚焦X射線管，最小測量點可達100 μm，適用于微小結(jié)構(gòu)（如連接器、觸點）的精細檢測 。

3. 高效計數(shù)率與穩(wěn)定性

• 比例計數(shù)器支持高達數(shù)千cps（每秒計數(shù)率），確保快速測量和良好的重復精度，即使短時間測量也能保證結(jié)果可靠性 。

4. 便捷的樣品放置設計

• X射線源位于測量艙底部，射線方向從下至上，結(jié)合大容量C型開槽艙體，便于放置大尺寸或扁平樣品（如印刷線路板） 。

5. 靈活的測量配置

• 支持手動或自動切換準直器與濾片，適應不同鍍層材料和結(jié)構(gòu)（如多層鍍層、同元素鍍種）